Laboratoře mikroskopie

Možnosti využití

AFMkomplet.JPG

V laboratoři mikroskopie se zabýváme mikroskopii optickou a mikroskopii atomárních sil. Oba typy mikroskopů jsou přizpůsobeny potřebám materiálové vědy. Laboratoř AFM je orientována na mikroskopii atomárních sil. Zabývá se trojrozměrným zobrazováním povrchů, především tenkých vrstev, polymerních kompozitů ev. plasmových nástřiků. Optická mikroskopie se využívá především ke zkoumání kvality pájených či lepených spojů, degradaci materiálů nebo pro kontrolu desek plošných spojů. Ve výuce se zde demonstrují například výbrusy SMD součástek či rozdíly v kvalitě tisku běžně používaných tiskáren.

Přístrojové vybavení

Přístrojové vybavení laboratoří je průběžně obnovováno. V laboratořích se tedy setkáte nejen s přístroji, které jsou již překonané novodobější technikou, a přesto na katedře stále nacházejí své využití, ale i s přístroji, které jsou v tomto oboru využívány teprve velmi krátké časové období.

AFM mikroskop Veeco di Innova

AFM.JPG

Mikroskopie AFM je založena na mapování atomárních sil na povrchu vzorku. AFM mikroskop využívá sondu, která rastruje povrch vzorku ostrým hrotem, umístěným na volném konci raménka (cantilever). Vzájemné silové působení mezi hrotem a povrchem vzorku způsobuje ohyb a odklon raménka. Povrchové síly jsou mapovány těsným přiblížením hrotu k povrchu, přičemž přitažlivé (Van der Waalsovy) nebo odpudivé síly (plynoucí z Pauliho principu) ohýbají raménko. Toto ohnutí je snímáno citlivým laserovým snímačem a vytváří měronosnou veličinu, jejímž prostřednictvím je počítačem generována povrchová topografie vzorku. Podstatné pro další aplikace je to, že povrchové síly působí u jakéhokoliv vzorku nezávisle na jeho vodivosti. Základní režimy AFM mikroskopu jsou režim kontaktní, nekontaktní a poklepový, tzv. tapping mod.

Optický mikroskop Olympus SZX7

SZX7.JPG

Optický mikroskop Olympus SZX7 je přímý mikroskop určený pro materiálové vědy se zvětšením až 120x, který je speciálně upraven, aby zabraňoval elektrostatickému poškození zkoumaného vzorku. Tento optický mikroskop je u nás v laboratoři doplněn o digitální fotoaparát Olympus E-330 Megapixels. Jmenované spojení nám společně se softwarem QuickPHOTO Industrial nabízí velmi snadné zpracování obrazu, včetně měření potřebných údajů. Pro nasvícení vzorku je používáno buď LED osvětlení, které lze nasadit přímo na objektiv mikroskopu, nebo osvětlení externí, zajištěné zdrojem studeného světla Olympus KL 1500 LCD, který byl speciálně navržen pro aplikace ve stereoskopické mikroskopii a makroskopii.

Kamerový mikroskop Neophot 32

Neophot32.JPG

Kamerový mikroskop Nephot 32 je invertovaný mikroskop pro materiálové vědy vyrobený firmou VEB Carl Zeiss Jena. Možnost zvětšení tohoto mikroskopu je 2000x a nosnost plochy pro uložení vzorku je 5 kg. Jako zdroj světla se zde využívá halogenová žárovka nebo xenonová výbojka, které jsou součástí přístroje. Pro zobrazení vzorku se dá použít projekční kotouč či mikrofotografické zařízení.

Od roku 2003 je pak u nás na katedře možnost zobrazovat výsledky zkoumání na fotoaparátu Nikon CoolPix 5700, který je pomocí speciálně zhotoveného nástavce připojen k přístroji. Z fotoaparátu je možno snímky ukládat do počítače. Z důvodu lepší využitelnosti kamerového mikroskopu při výuce máme ale fotoaparát připojen k televizní obrazovce, na které mohou studenti sledovat předkládané vzorky.

Optický mikroskop JENAVERT

Jenavert.JPG

Optický stereomikroskop JENAVERT je výrobkem firmy VEB Carl Zeiss Jena a využívá osvětlení odrazem světla. Maximální zvětšení tohoto mikroskopu je 1000x. JENAVERT se využívá především k hodnocení mikrostruktury materiálu.






Mikroskopy s menším zvětšením

mikro1.JPG
mikro2.JPG














Předměty vyučované v této laboratoři

Do laboratoří, zabývajících se mikroskopií, se můžete podívat při výuce předmětů A0M13KTM (Konstrukce a technologie mikropočítačů), A0B13NNT (Nanotechnologie), AE0B13NNT (Nanotechnology) a A1B14SEM (Elektrotechnický seminář), případně při práci na některé ze studentských prací, jako jsou práce bakalářské, diplomové, či studentské projekty. Hojně je pak na naší katedře mikroskopie využívána studenty doktorského studia.

Ukázky konkrétních prací z laboratoří mikroskopie

Vybrané výsledky zkoumání z AFM mikroskopu:

AFMzoom1.jpg
AFMzoom3.jpg

Vybrané fotografie z optického mikroskopu:

chyba.jpg
whisker.jpg

Umístění laboratoře

Místnosti T2:B3:141b a T2:B3:141c, ve kterých naleznete mikroskopy naší katedry, se nacházejí v prvním patře bloku B3 fakulty elektrotechnické naproti bufetu. Červeně je znázorněn přístup od hlavního vchodu do budovy monobloku.

T2-B3-141.PNG

Za informace zodpovídá: Ivana Beshajová-Pelikánová, Jiří Petr

Verze 133.1 naposledy upravil K13113PowerUser - 30/07/2015 - 09:35

Komentáře 0

Žádné komentáře pro tento dokument

Přílohy 13

Image
Neophot32.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (37kb )
Image
SZX7.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (70kb )
Image
AFM.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (48kb )
Image
Jenavert.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (45kb )
Image
mikro1.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (32kb )
Image
mikro2.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (39kb )
Image
AFMkomplet.JPG 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (68kb )
Image
T2-B3-141.PNG 1.1
PostedBy: K13113PowerUser na 07/08/2014 (11kb )
Image
AFMzoom1.jpg 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (41kb )
Image
chyba.jpg 1.1
PostedBy: K13113Editor na 15/12/2010 (74kb )
Image
AFMzoom3.jpg 1.1
PostedBy: K13113Editor na 14/12/2010 (37kb )
Image
whisker.jpg 1.1
PostedBy: K13113Editor na 15/12/2010 (53kb )
Image
LEDdioda.jpg 1.1
PostedBy: K13113Editor na 15/12/2010 (54kb )

Vytvořil: Martin Molhanec - 2010/12/06 14:53
Copyright Department of Electrotechnology of CTU FEE in Prague
XWiki Enterprise 1.5.11446 - Documentation