papez.gif
Prof. Ing. Václav Papež, CSc.
akademický pracovník FEL ČVUT
místnost: T2:G1-122b
telefon: +420 2 2435 2165
e-mail: papez@fel.cvut.cz

Vzděláni - Education

  • 1979 - Ing., Elektrotechnická fakulta ČVUT, obor radioelektronika (M.Sc., Czech Technical University, Radioelectronics)
  • 1984 - CSc., Elektrotechnická fakulta ČVUT, obor radioelektronika (Ph.D., Czech Technical University, Radioelectronics)
  • 1999 – Doc., Elektrotechnická fakulta ČVUT, obor elektrotechnologie (Associated Professor, Czech Technical University, Electrotechnology)
  • 2017 – Prof., Elektrotechnická fakulta ČVUT, obor elektrotechnologie (Associated Professor, Czech Technical University, Electrotechnology)

Výuka - Teaching

  • A0M13PRE - Průmyslová Elektronika (Industrial electronics),
  • A1B13VST - Výkonové součástky a technologie (Technologies in Electrical Engineering),
  • A1M13VES - Výroba elektrotechnických součástek (Manufacturing of Electrical Components),
  • B0B13KEO - Konstrukce a realizace elektronických obvodů (Construction of Electronic Circuits).
Výzkumné aktivity - Research activities

  • Konstrukce a technologie radioelektronických obvodů (Radioectronics circuits design and technology),
  • Technologie a diagnostika elektronických součástek (Electronics devices technology and diagnostics),
  • Výkonové a nízkošumové vysokofrekvenční obvody (Power and low-noise electronics circuits).
Vybrané publikace - Selected publications

  • Papež, V. - Hájek, J. - Kojecký, B.: Capacitive methodes for testing of power semiconductor devices. Facta Universitatis. 2015, vol. 28, no. 3, art. no. 10, p. 495-505. ISSN 0353-3670
  • Papež, V. - Hájek, J. - Kojecký, B.: Influence of surface states on the reverse and noise properties of silicon power diodes. IET Circuits, Devices & Systems. 2014, vol. 8, no. 3, art. no. 5, p. 213-220. ISSN 1751-858X.
  • Papež, V. - Papežová, S.: High sensitivity phase noise measuring equipment. In 2014 29th International Conference on Microelectronics - Proceedings. Piscataway: IEEE - Electron Devices Society, 2014, p. 337-340. ISBN 978-1-4799-5295-3.
  • Hájek, J. - Papež, V. - Kojecký, B.: Investigation of Flicker Noise in Silicon Diodes under Reverse Bias. Microelectronics Reliability. 2012, vol. 52, no. 3, art. no. 2, p. 469-474. ISSN 0026-2714
  • Papež, V. - Bušek, D. - Podzemský, J.: Radio-frequency Solder Film Surface Resistance Measurement. In Applied Electronic 2011. Plzeň: University of West Bohemia, 2011, p. 299-302. ISSN 1803-7232. ISBN 978-80-7043-987-6.
  • Papež, V. - Papežová, S.: Contactless Diagnostics of Thin Film Layers. In XIX IMEKO World Congress 2009 - Fundamental and Applied Metrology. Lisbon: Instituto Superior Técnico/Instituto de Telecomunicaçoes Portugal, 2009, p.1428-1433. ISBN 978-963-88410-0-1.
  • Papežová, S. - Papež, V.: Evaluation of the Influence of the Magnetic Field on Human by use of Bio-Impedance. In 16th IMEKO TC4 International Symposium. Florence: University of Florence, Faculty of Engineering and Faculty of Economics, 2008, ISBN 978-88-903149-3-3.
  • Papež, V. - Kojecký, B. - Šámal, D.: Reliability of Reverse Properties of Power Semiconductor Devices: Influence of Surface Dielectric Layer and its Experimental Verification. Microelectronics Journal. 2008, vol. 39, no. 6, p. 851-856. ISSN 0026-2692.
  • Benda, V. - Černík, M. - Papež, V.: OCVD Carrier Lifetime in P+NN+ Diode Structures With Axial Carrier Lifetime Gradient. Microelectronics Journal. 2006, vol. 2006, no. 37, p. 217-222. ISSN 0026-2692.
  • Papež, V. - Kojecký, B. - Kožíšek, J.,- Hejhal, J.:Transient effects on high voltage diode stack under reverse bias.Microelectronics Reliability, 2003, vol. 43, no. 4, p. 557-564, ISSN 0026-2714
  • Papež, V. - Papežová, S.: Measuring of Non-Linearity of Nominaly Linear Electronic Components and Networks, In 17th IMEKO TC4 World Congress Metrology in the 3rd Millennium, Dubrovnik: 2003, p. 832-836. ISBN 953-7124-00-2.:
  • Papež, V., Měření nelinearity pasivních součástek pomocí intermodulačního zkreslení (The measurement of Non-linearity of passive components using a method of intermodulation distortion), In XII. Proceedings of conference DIDMATTECH'99. Nitra.
Patenty - Patents

Available also at Industrial Property Office Database: http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.frm?p_lan=English

  • Papež, V.: Zařízení pro měření kapacity výkonových vysokonapěťových polovodičových součástek (Apparatus for measuring capacitance of power high-voltage semiconductor devices), 305210, 2015-04-29.
  • Papež, V.: Kompenzovaná vysokofrekvenční zátěž (Compensated high-frequency load), 304364. 2014-02-12.
  • Papež, V.: Zařízení pro automatické testování výkonových kondenzátorů (Apparatus for automatic testing power capacitors), 304363. 2014-02-12.
  • Papež, V.: Půdní mrazoměr (Soil-freezing meter ), 304000, 2013-06-26.
  • Papež, V.: Bezkontaktní indikátor elektrického výkonu procházejícího přívodní šňůrou (Contactless indicator of electric output passing through line connector cord ), 303999, 2013-06-26.
  • Papež, V., Hrzina, P.: Zařízení pro samočinné řízení a nastavování výkonových aktivních prvků, zejména u výkonových polovodičových zesilovačů (Device for automatic control and setting of power active members, particularly in power solid-state amplifiers), 303920, 2013-05-15.
  • Papež, V.: Můstkový krystalový symetrický oscilátor(Bridge crystal symmetrical oscillator ), 303133, 2012-03-14.
  • Papež, V.: Vysokofrekvenční výkonový drátový rezistor(High-frequency power wire resistor), 303041. 2012-01-26.
  • Papež, V., Hájek, J., Kojecký, B.: Zařízení pro vyhodnocování napěťových vlastností výkonových polovodičových součástek (Equipment for evaluating voltage properties of power semiconductor devices), 303040, 2012-01-26.
  • Papež, V.: Můstkový krystalový symetrický oscilátor (The Bridge Quartz Controlled Symetrical Oscilator), 301881. 2010-06-10.
  • Papež, V., Kunzel,K.: Zapojení pro potlačení přepětí u elektrických strojů napájených impulzními průběhy (Circuit arrangement for suppressing overvoltage in electrical machines fed with pulse waveforms), 287213, 2000-08-07.
  • Papež, V.: Zařízení pro určování nehomogenit v izolantech (Equipment for establisng of inhomogenities in insulators), 280007, 1995-07-10.
  • Papež, V., Kuba, J.: Vysokonapěťový kapacitor a dělič napětí (High voltage capacitor and voltage devider), 279294, 1993-05-11
  • Papež, V.: Zařízení pro měření parametrů materiálů při kryogenních teplotách (Equipment for material parameters measuring at cryogenic temperatures), 272927, 1991-12-16.
  • Papež, V.: Transformační obvod pro napájení antény typu celovlnný zářič (Matching circuit for feeding of full-wave radiator antenna), 271680, 1991-09-09.
  • Papež, V.: Přenosový systém diferenciální pulsně kódové modulace (DPCM transmission system) 255067,1987-10-27.
Verze 15.1 naposledy upravil K13113PowerUser - 26/06/2017 - 15:37

Komentáře 0

Žádné komentáře pro tento dokument

Přílohy 1

Image
papez.gif 1.1
PostedBy: K13113PowerUser na 20/09/2016 (10kb )

Vytvořil: Martin Molhanec - 2016/09/19 15:39
Copyright Department of Electrotechnology of CTU FEE in Prague
XWiki Enterprise 1.5.11446 - Documentation